Нитрид-галлиевая HEMT-технология с топологическими нормами 500/250 нм

Разработка


ID
1V8Q-XP1O
Пользователь
Категория
G - физика
Опубликован
14.03.2025 15:25

Описание

Пластина GaN on SiC c усилителями мощности S-диапазона частот для применения в радарных системах. Изготовление усилителей мощности с топологическими нормами до 250 нм и рабочими частотами до 40 ГГц.

Уровень готовности технологии
TRL 6. Образцы усилителей мощности S, L, X-диапазона частот прошли испытания и готовятся к серийному выпуску (совместная разработка с АО «НПФ «Микран
»).